可測量激光光束的強度截面的“光束質量分析儀”

　　光束質量分析儀是一種測量激光光束的強度截面的裝置，可以測量激光光束的整個光強截面，不僅能測量光束半徑還可以測量得到細節形狀。分析激光光束是對其功率或能量測量的一種補充，分析儀提供了非常有用的附加信息，如空間能量或強度分布、光束寬度、質心、橢圓度和方向，這可以幫助您確定您的激光系統是否在最佳狀態下運行。分析儀可以用于以下方面：定性給出光束截面可以用于激光的對準，而測量光軸不同位置處的光束半徑可以計算M2因子或者光束參量乘積，定性表征光束質量。
 

　　光束質量分析儀采用合適的激光光束診斷方法控制光束質量在很多激光器應用中都很重要，例如，材料加工；例如，如果可以控制光束質量，就可以得到更加一致的鉆孔質量。很多分析儀使用于數碼相機，在可見光和近紅外光譜區域，CMOS和CCD是最常見的。CMOS裝置更加便宜，但是CCD具有更好的線性和更低的噪聲。CCD和CMOS相機都能得到像素大小的分辨率，因此光束半徑可以小到更小。有源區面積的尺寸為幾個毫米，因此可以處理非常大的光束。
 

　　有的光束質量分析儀可以采用一個或者多個針孔、狹縫或者刀口來掃描光束截面。任一情況下，一些機械部分(固定在旋轉部分上)快速通過光束，而透射功率由一個光電探測器或一些電子裝置記錄。采用計算機(PC或者內置微處理器)根據測量數據得出光束截面，然后顯示在屏幕上。例如，透射功率與刀口位置的關系被分離開來得到光束的一維強度截面，然后移動的狹縫可以直接得到強度截面。